Поиск по сайту
Проект публикации книги «Познай самого себя»
Узнать, насколько это интересно. Принять участие.

Новость сайта Fornit

Ученые обманули свет

Команда ученых, возглавляемая доктором Христофом Линау (Christoph Lienau) из Института нелинейной оптики и короткоимпульсной спектроскопии им. Макса Борна (MBI) в Берлине, разработала и испытывает новую нанооптическую технологию, которая позволяет рассматривать объекты, во много раз меньшие длины световой волны.
Специалисты из исследовательского центра Julich, занимающееся разработкой сверхтонких наноструктурных кремниевых пленок для солнечных батарей нового поколения столкнулись с проблемой. Для полного понимания того, как свет распространяется в кремневых пленках, им нужно было видеть их структуру. На помощь пришли их коллеги из Института Макса Борна, по запатентованной технологии они создали туннельный сканирующий оптический микроскоп (SNOM), обеспечивающий сверхчеткое оптическое разрешение.
"Нам нужно знать полностью оптические свойства кремниевых структур. Поэтому, ни атомный силовой микроскоп, ни другие электронные микроскопы не могут нам помочь, поскольку они дают достаточную информацию только о поверхности структур, но не об их электромагнитных свойствах. SNOM, построенный коллегами в MBI, позволяет нам исследовать, как свет распространяется в тонких кремниевых пленках", - сказал ученый центра, доктор Рейнхард Кариус (Reinhard Carius).
В основе работы SNOM лежит принцип того, что свет распространяется не только волнами, но частицами (фотонами), которые могут проникать через непроницаемые для волн преграды. Поток фотонов в SNOM анализируется до и после прохождения через исследуемую наноструктуру, и на основе полученных данных строится ее изображение.
"Нам удалось перехитрить свет, заставив его проходить сквозь "непрозрачные" преграды. Фотоны могут проникать сквозь отверстия диаметром всего в 50 нанометров, тогда как длина световой волны составляет 400 - 800 нанометров", сказал Христоф Линау.

21-10-2005г.
Активность
Главная
Темы
Показы
Полезное
О сайте
Яндекс.Метрика